JavaScript scheint in Ihrem Browser deaktiviert zu sein.
Sie müssen JavaScript in Ihrem Browser aktivieren um alle Funktionen der Seite nutzen zu können.
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit zusätzlichem Ionenstrahl zur seriellen Abbildung der Blockoberfläche zwecks 3D-Rekonstruktion (Focussed Ion Beam SEM).
Standort: Gebäude I4, Ebene H0, Raum 1260
